时间： 2019-12-03 - 2019-12-03
地点： 上海
TESCAN 公司一直以扫描电镜为基础平台努力扩展多种分析功能，构建 All-IN-One 综合显微分析系统。目前TESCAN已经在扫描电镜上集成拉曼光谱，可以对碳结构、官能团、同素异形、结晶度、应力等多种微观性质进行进一步的表征；而在双束平台上，TESCAN 也成功集成了 TOF-SIMS，很好的解决了包括 H、Li 在内的轻元素的高空间分辨的分析问题，另外在深度方向也有纳米级的分辨率，也很好的解决了纳米膜层的分析。 &nbs
时间： 2019-10-15 - 2019-10-18
地点： 合肥
2019年10月15日-18日，在2019全国电子显微学学术年会期间，TESCAN 将展出最新一代 FIB-SEM，连续3天在大会酒店一楼百合厅开展现场Demo演示和技术交流会。在学术会议期间，我们还在一楼百合厅安排了有趣的抽奖和主题沙龙活动，您将有机会享受充满捷克风情的啤酒和美食，欢迎您前来参观和交流！演示和交流会的名额有限，请在文末识别报名二维码即刻报名参加哦！ 2019年10月15日下午15:30开始，TESCAN在合肥丰大国际酒店一楼百
时间： 2015-04-27 - 2015-04-30
地点： 北京
纳米科学的繁荣离不开分析测试手段的创新与发展。自20世纪60年代电子显微镜技术得到广泛应用以来，纳米表征技术在分辨率与测试手段上都有了长足的进步，所能采集的信息也不再局限于表面形貌，粒度，机械强度等简单的数据。而原子力显微镜作为一种易于扩展的工作平台，在开发纳米光谱新技术的过程中更是得到了广泛的应用。 近年来，大量将已有测试手段与原子力显微镜结合到一起的新技术应运而生，进一步扩宽了样品信息的采集范围，增加了采集手段，满足了更多的科研工作的要求。而在这其中就以纳米红外技术、针