邀请函 | TESCAN与上交大分测中心联合举办“扫描电镜-原子力联用技术（CPEM）交流会”

TESCAN 公司一直以扫描电镜为基础平台努力扩展多种分析功能，构建 All-IN-One 综合显微分析系统。

目前TESCAN已经在扫描电镜上集成拉曼光谱，可以对碳结构、官能团、同素异形、结晶度、应力等多种微观性质进行进一步的表征；而在双束平台上，TESCAN 也成功集成了 TOF-SIMS，很好的解决了包括 H、Li 在内的轻元素的高空间分辨的分析问题，另外在深度方向也有纳米级的分辨率，也很好的解决了纳米膜层的分析。

日程安排：

9:30 ~ 10:00    TESCAN All-IN-One 综合微分析

                        系统简介

      演讲人：顾群

10:00~ 11:30   扫描电镜-原子力联用技术及应用

      演讲人：Dr Jan Neuman

11:30~13:30    午餐

13:30~16:30    演示