时间： 2019-10-15 - 2019-10-18
地点： 合肥
2019年10月15日-18日，在2019全国电子显微学学术年会期间，TESCAN 将展出最新一代 FIB-SEM，连续3天在大会酒店一楼百合厅开展现场Demo演示和技术交流会。在学术会议期间，我们还在一楼百合厅安排了有趣的抽奖和主题沙龙活动，您将有机会享受充满捷克风情的啤酒和美食，欢迎您前来参观和交流！演示和交流会的名额有限，请在文末识别报名二维码即刻报名参加哦！ 2019年10月15日下午15:30开始，TESCAN在合肥丰大国际酒店一楼百
时间： 2017-10-09 - 2017-10-11
地点： 北京
第十七届北京分析测试学术报告会暨展览会（BCEIA2017） 学术报告会二轮通知 大会特邀报告 学术报告会各分会负责人及会议主题 A、 电子显微学及材料科学 一级会议主题: 未来十年电镜发展及应用 二级会议主题: 亚埃尺度显微学
时间： 2015-07-23 - 2015-07-24
地点： 上海
尊敬的各位同仁： 2014年度诺贝尔化学奖颁布后，高分辨率成像技术也变得备受关注。高分辨率成像技术的出现突破了传统光学分辨率的极限，虽然早在十几年前就已经实现超高分辨率的成像，但在生命科学领域并没有得到广泛的应用。可喜的是，近年来出现了一些转机。在结构生物学领域，冷冻电镜的大规模使用带来了一场变革。在影像学研究领域，PET等分子成像技术的应用日臻成熟。各种显微成像技术，比如荧光、探针、quantumdot技术、共聚焦显微镜技术、扫描隧道显微镜技术、原子力显微镜技术、透射电子