时间： 2019-10-15 - 2019-10-18
地点： 合肥
2019年10月15日-18日，在2019全国电子显微学学术年会期间，TESCAN 将展出最新一代 FIB-SEM，连续3天在大会酒店一楼百合厅开展现场Demo演示和技术交流会。在学术会议期间，我们还在一楼百合厅安排了有趣的抽奖和主题沙龙活动，您将有机会享受充满捷克风情的啤酒和美食，欢迎您前来参观和交流！演示和交流会的名额有限，请在文末识别报名二维码即刻报名参加哦！ 2019年10月15日下午15:30开始，TESCAN在合肥丰大国际酒店一楼百
时间： 2017-10-09 - 2017-10-11
地点： 北京
第十七届北京分析测试学术报告会暨展览会（BCEIA2017） 学术报告会二轮通知 大会特邀报告 学术报告会各分会负责人及会议主题 A、 电子显微学及材料科学 一级会议主题: 未来十年电镜发展及应用 二级会议主题: 亚埃尺度显微学
时间： 2017-04-28 - 2017-04-28
地点： 上海
致工作在电镜及样品制备最前沿的同行们：成功的样品制备对电子显微镜至关重要！过去由于制样手段的局限性，导致很多样品无法观察到最原始最真实的结构，成为电镜应用发展的最大障碍。现在电镜制样技术日新月异，通过各种高端高效的制样手段，可以实现对样品原始结构的观察与分析。 日程安排时间：2017年4月28日（星期五）地点：上海市闵行区剑川路601号 上海交通大学分析测试中心 323会议室8:30-9:00签到9:00-9:10研讨会开场致辞上海交通大学分析测试中心微区室主任&