时间： 2019-12-03 - 2019-12-03
地点： 上海
TESCAN 公司一直以扫描电镜为基础平台努力扩展多种分析功能，构建 All-IN-One 综合显微分析系统。目前TESCAN已经在扫描电镜上集成拉曼光谱，可以对碳结构、官能团、同素异形、结晶度、应力等多种微观性质进行进一步的表征；而在双束平台上，TESCAN 也成功集成了 TOF-SIMS，很好的解决了包括 H、Li 在内的轻元素的高空间分辨的分析问题，另外在深度方向也有纳米级的分辨率，也很好的解决了纳米膜层的分析。 &nbs
时间： 2016-06-23 - 2016-06-23
地点： 杭州
时间：2016 年 6 月 23 日 8:30-17:00 地点：杭州百瑞国际大酒店 8 楼花港厅 荷兰帕纳科公司将于 2016 年 6 月 23 日（周四）在杭州举办——帕纳科最新 X 射线分析仪器技术研讨会。届时将特邀荷兰总部资深 XRF 应用专家肖又红博士介绍具备多核 X 射线分析技术的最新 Zetium 光谱仪，还将邀请荷兰总部资深 XRD 应用专家鲍朝晖博士介绍帕纳科 X 射线衍射技术的最新进展。会议还将介绍 X 射线分析技术在工业测试中的