PeakForce QNM成像模式实用指南

【内容简介】

Bruker专利技术PeakForce QNM成像模式，使得研究者在获得高分辨率形貌图像的同时，还可以对样品进行纳米定量力学性能测试，同时获得高分辨成像。此技术适用范围很广 (模量从1MPa到 70GPa，粘附力从10pN到10μN)，可以对不同类型的样品进行表征。

本讲座将详细讲解PFQNM在使用过程中的一些细节问题，包括如何选择探针，如何准确校准Deflection Sensitivity，如何准确校准悬臂的弹性系数，如何准确判断样品的Indentation等涉及到测量准确性的问题。

【主讲人简介】

孙昊博士，1982年10月出生于山东省济南市。2000年至2004年就读于山东大学化学与化工学院应用化学系。2005年进入北京大学化学与分子工程学 院无机化学系硕博连读。主要研究方向是基于扫描探针显微技术的无机纳米材料的制备和表征。2010年获得理学博士学位。毕业后加入Bruker纳米表面仪 器部担任客户服务中心及售后服务主管。