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三维光学轮廓仪在半导体行业中的应用
所属会议：纳米压痕技术和三维光学轮廓仪在半导体行业中的应用查看会议详情
王成城
布鲁克 应用及系统工程师
2015年毕业于Wayne State University，取得理学硕士学位，化学专业。2021年加入布鲁克纳米表面量测（BNSM）部门。主要负责布鲁克三维光学轮廓仪的安装及售后工作。
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