全国失效分析大会

TESCAN最新一代电镜亮相2019年全国电子显微学学术年会

时间: 2019-10-15 - 2019-10-18
地点: 合肥

2019年10月15日-18日,在2019全国电子显微学学术年会期间,TESCAN 将展出最新一代 FIB-SEM,连续3天在大会酒店一楼百合厅开展现场Demo演示和技术交流会。在学术会议期间,我们还在一楼百合厅安排了有趣的抽奖和主题沙龙活动,您将有机会享受充满捷克风情的啤酒和美食,欢迎您前来参观和交流!演示和交流会的名额有限,请在文末识别报名二维码即刻报名参加哦! 2019年10月15日下午15:30开始,TESCAN在合肥丰大国际酒店一楼百

PerkinElmer第二届热分析及联用技术全国高级技术交流会邀请函暨论文征稿启事(第二轮通知)

时间: 2017-08-21 - 2017-08-25
地点: 青海西宁

多年以来,热重分析仪(TGA)、同步热分析仪、傅立叶变换红外光谱仪(FTIR)以及气质联用(GC/MS)设备作为材料表征的常规手段在科研工作中已得到广泛应用。但在实际应用中,这些技术仪器在单独使用时均存在各自的局限性。例如,对于大多数检测样品而言,仅使用TGA 时 无法直接获知其分子结构信息;仅使用FTIR 作为混合物样品定量工具时,往往需要繁琐的工作曲线和差谱法来获得结果。近五年以来,在越来越多的领域中,需要一类仪器能够同时对微量样品随温度或时间变化过程中的逸出气体进行定

2015物理测试新技术研讨会

时间: 2015-11-16 - 2015-11-18
地点: 上海

随着科学技术的不断发展,理化测试技术的发展也是日新月异。不仅测试技术和方法每年都有突破和创新,而且新的测试仪器和设备也在不断被开发和应用,试验标准和规范也不断更新和制定。为了及时跟踪最新的物理测试技术,了解行业发展动态,《理化检验-物理分册》编辑部拟定于2015年11月16-18日在上海召开"2015物理测试新技术研讨会",以期为广大物理测试人员以及设备厂商提供一个沟通、交流和展示的平台,总结经验,推进创新,促进行业发展。会议将会邀请业内10余名知名专家