全国无机及同位素质谱学学术会议

TESCAN最新一代电镜亮相2019年全国电子显微学学术年会

时间: 2019-10-15 - 2019-10-18
地点: 合肥

2019年10月15日-18日,在2019全国电子显微学学术年会期间,TESCAN 将展出最新一代 FIB-SEM,连续3天在大会酒店一楼百合厅开展现场Demo演示和技术交流会。在学术会议期间,我们还在一楼百合厅安排了有趣的抽奖和主题沙龙活动,您将有机会享受充满捷克风情的啤酒和美食,欢迎您前来参观和交流!演示和交流会的名额有限,请在文末识别报名二维码即刻报名参加哦! 2019年10月15日下午15:30开始,TESCAN在合肥丰大国际酒店一楼百

2013年全国无机及同位素质谱学学术会议

时间: 2013-11-22 - 2013-11-25
地点: 昆山

2013年全国无机及同位素质谱学学术会议(第三轮通知) 报到时间:11月22日(8:00-22:00) 报告时间:11月23日-24日上午 参观考察时间:11月24日下午-25日 会议日程安排 (以会议手册为准) 时间 会议日程 地点及主持人   11月22日 08:00-22:00 注册报到 昆山宾馆   15:00-18:00 厂家仪器及墙报布展 三楼琼花厅   16:30-17:30 学术委员会会议 三楼秦峰厅   18:30-

2010年全国有机质谱学术会议(第二轮通知)

时间: 2010-11-04 - 2010-11-09
地点: 广西南宁

由中国分析测试学会主办,清华大学分析中心承办的全国有机质谱学术会议定于2010年11月4-9日在广西南宁召开,会议有大会综述报告、新技术研究报告、专题报告、优秀论文评选等学术交流活动。目前论文审稿已经结束,个别需要继续投稿的专家或者单位请于9月10日之前直接与会议联系人联系。其他相关的通知如下: 一、会议时间:2010年11月4-9日 (广西南宁) 二、主办单位:中国分析测试协会;承办单位:清华大学分析中心 三、会议主题:面向生命、环境、食品等各领域需求的有机质谱研究 四、