时间: 2017-10-09 - 2017-10-11
地点: 北京
第十七届北京分析测试学术报告会暨展览会(BCEIA2017) 学术报告会二轮通知 大会特邀报告 学术报告会各分会负责人及会议主题 A、 电子显微学及材料科学 一级会议主题: 未来十年电镜发展及应用 二级会议主题: 亚埃尺度显微学
时间: 2017-08-09 - 2017-08-11
地点: 南京
各位专家、各位领导、各位理事: 为了梳理和交流国内外分析仪器技术进展,经上级学会批准,中国仪器仪表学会分析仪器分会发起召开一年一度的“中国分析仪器学 术年会”,即将举行的第四届年会定于 2017 年 8 月 9-11 日在江苏南 京召开。此次年会办会宗旨为:聚集分析仪器界产、学、研、用、政 工作者,沟通仪器创新需求,剖析技术发展趋势,交流技术创新成果, 促进分析仪器界产、学、研、用合作。 我们热烈欢迎分析仪器使用者,从事分析仪器及其零部件、制造 工艺、关键材料相关基础研究、