随着光学技术的飞速发展，光学薄膜在诸多领域的应用越来越广泛，其性能与设计、加工及分析测量技术密切相关。为了进一步推动光学薄膜技术的发展，提升行业水平，安捷伦科技联合分析测试百科网举办本次研讨会，邀请光学薄膜产业知名企业、科研院所专家进行分享，将围绕滤光片、极端尺寸样品、高品质光学薄膜的相关研究与测试进行深入探讨。
2024-01-18 14:00 ~ 2024-01-18 17:00已结束
光学薄膜设计、加工与分析测量主题研讨会
会议日程
2024年01月18日
| 时间 | 演讲题目 | 主讲人 | 单位名称 | 职位 |
|---|---|---|---|---|
| 14:00-14:10 | 致辞欢迎 | 宋建华 | 安捷伦科技（中国）有限公司 | 资深应用工程师 |
| 14:10-14:50 | 吸收型滤光片的设计、加工及检测 | 宫向宇 | 长春博信光电子有限公司 | 运营经理，高级工程师 |
| 14:50-15:20 | 从8英寸到2mm—极端尺寸样品的自动mapping与测试 | 蒋龙平 | 安捷伦科技（中国）有限公司 | 资深应用工程师 |
| 15:20-16:00 | 磁控溅射研制高品质光学薄膜及相关测试手段简介 | 何文彦 | 中国科学院光电技术研究所 | 副研究员、硕士生导师 |
| 16:00-16:10 | 问答互动 | 全体成员 | ||
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