【内容简介】

随着EBSD技术的普及，常规的EBSD已经普遍应用，但其空间分辨率一直受到背散射电子作用区的限制，很难应用于大变形和纳米晶样品。TKD技术（透射菊池衍射）利用普通的EBSD探测器，采集SEM电子束穿透TEM的样品后激发的衍射花样，来分析微观组织，能获得比常规EBSD技术更高的空间分辨率，逐渐成为一项重要的纳米分析技术。

但在实际使用过程中，很多用户也会遇到如TKD数据采集样品漂移、标定率不高等诸多问题。为此，为了使广大用户能深入了解TKD技术原理并充分运用TKD技术来开展工作，牛津仪器将邀请行业专家于2020年12月1日下午14:30–16:30，一起为大家详细讲解并答疑解惑。

本次课程我们有幸邀请到香港大学机械工程系黄明欣教授课题组的王舟博士，为大家介绍如何利用EBSD与TKD技术在如超高强度钢、镀层分析中实现高空间分辨率分析。黄教授课题组长期从事超高强度钢的研发工作，在Science，Acta Materialia，Journal of the Mechanics and Physics of Solids等国际著名期刊发表SCI论文超过100篇。在本次会议中，王博士将会为大家带来精彩的讲解，欢迎大家报名参加。

【日程安排】