【内容简介】

原子力显微镜（AFM）可以在纳米尺度下研究材料表面的结构、力学、和电学等性质。通过使用尖锐的针尖，AFM在理论上甚至能获得原子级别的分辨率。然而，在实际操作中，高分辨扫描是具有挑战的。许多高分辨实验需要在非常安静的环境中通过研究者自己搭建的AFM系统来进行。

此次网络讲座会介绍影响AFM高分辨扫描的诸多因素，以及Cypher系列AFM如何针对这些因素进行优化，使得高分辨不再高不可攀。同时，我们会介绍在大气和溶液环境中获得的一些高分辨扫描结果，包括晶体的原子点缺陷图像，无机和有机二维材料的晶格图像，生物大分子的组装结构等。期待您的参与！

【主讲人简介】

竺仁于2015年毕业于美国明尼苏达大学机械工程系，在博士以及博士后期间积累了多年的原子力显微镜使用和研发经验。他于2016年加入牛津仪器Asylum Research ，任职原子力显微镜应用工程师。