原子力显微镜分析技术主题

【内容简介】

原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，AFM）是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。由于AFM独特的成像方式，使得它在科学研究工作中，如金属、半导体材料、微电子、物理、化学、生物、纳米材料、生命科学等众多科学领域中得到迅速的发展和应用。

本次研讨会，分析测试百科网将邀请行业专家，同大家一起探讨原子力显微镜技术，希望能对行业内工作者带来帮助和启发。

【日程安排】

时间	报告人	单位	报告题目
09:00-09:30	钱建强教授	北京航空航天大学物理学院	多模态原子力显微镜分子模拟方法
09:30-10:00	刘志文	牛津仪器	基于AFM二维材料电学性质表征新进展
10:00-10:30	纪鸣	上海纳腾仪器有限公司	原子力显微镜与可见-红外-拉曼-荧光联用系统
10:30-11:00	陈强	岛津	原子力显微镜技术发展沿革与热点
11:00-11:30	程志海教授	中国人民大学物理系	二维材料界面应变结构与性质的原子力显微学研究

【报告简介】

原子力显微镜技术发展沿革与热点

科学研究的视野日益微观，实验的需要也逐步从静止的状态观察深入到动态的过程观测。对于原子力显微镜而言，仅仅着眼于样品表面的形貌观察无异于故步自封。科学研究需要能够深入到表面及界面层捕捉反应过程的仪器。

原子力显微镜与可见-红外-拉曼-荧光联用系统

光诱导力显微镜（Photo induced Force Microscope, PiFM），作为一种新型扫描探针技术显微镜，在可见~红外光激发条件下，通过检测针尖与样品之间的偶极-偶极相互作用，可以直接测量样品近场的光诱导极化分布，无需光谱仪器或远场光学接收器，空间分辨率高达10nm。利用不同化学组分所对应不同的红外吸收，PiFM可以对共聚物薄膜中的化学组分实现纳米尺度的空间分布测量。PiFM可以表征二维材料表面的电磁场强分布。

【赞助商】