【内容简介】

原子力显微镜(AFM)被广泛用于科研和工业界各领域，涵盖了聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，细胞表面形态观察，生物大分子的结构及性质，生物传感器，分子自组装结构等领域的监测等各类科研和生产工作。本次讲座我们将重点介绍AFM力曲线的测量，定量力学信息的获取及分析。

本次讲座的内容主要包括：

1.力曲线的概念，F-Z曲线与F-D曲线的区别及相互间转化关系。

2. 定量力学测量的参数校正。

3.模量计算的模型选择方法。

4.Peakforce QNM功能简介。

【主讲人简介】

殷豪，1981年出生，男，博士，布鲁克技术支持工程师，上海地区客户培训讲师。2010年毕业于中国科学院上海技术物理研究所，获得理学博士学位。博士期间主要从事基于原子力显微镜(AFM)的III-V族半导体纳米电子学研究;毕业后主要从事AFM相关的软硬件技术支持，以及售后应用支持;具有长达9年的AFM技术经验。