【内容简介】

现代科学技术中，观察、测量、分析以及操纵纳米大小的物体是一个热门的研究领域。原子力显微镜的诞生为研究者们提供了分析和操作纳米世界的“眼”和 “手”。因此，自诞生以来AFM已经被广泛用于科研和工业界各领域，涵盖了聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，细胞表面形态观察，生物大分子的结构及性质，生物传感器，分子自组装结构等领域的监测等各类科研和生产工作。

本报告主要讲解AFM的基本原理及成像模式，重点介绍成像参数调节的基本技巧，以及图像处理和分析的基本方法；让用户更好的了解AFM发展的进展及其应用，帮助AFM用户掌握获得高品质图像，获取实验数据的技巧;进一步为用户将来更深入的研究打下良好的基础。

【主讲人简介】

孙昊博士，1982年10月出生于山东省济南市。2000年至2004年就读于山东大学化学与化工学院应用化学系。2005年进入北京大学化学与分子工程学院无机化学系硕博连读。主要研究方向是基于扫描探针显微技术的无机纳米材料的制备和表征。2010年获得理学博士学位。毕业后加入Bruker纳米表面仪器部担任客户服务中心及售后服务主管。