【报告简介】

现代科学技术中，观察、测量、分析以及操纵纳米大小的物体是一个热门的研究领域。原子力显微镜的诞生为研究者们提供了分析和操作纳米世界的“眼”和“手”。因此，自诞生以来AFM已经被广泛用于科研和工业界各领域，涵盖了聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，细胞表面形态观察，生物大分子的结构及性质，生物传感器，分子自组装结构等领域的监测等各类科研和生产工作。

本报告作为2014年原子力显微镜测量技术系列讲座的第一讲，主要讲解AFM的基本原理及成像模式，重点介绍成像参数调节的基本技巧，以及图像处理和分析的基本方法;让用户更好的了解AFM发展的进展及其应用，帮助AFM用户掌握获得高品质图像，获取实验数据的技巧;进一步为用户将来更深入的研究打下良好的基础。

【报告内容】

1. 影响原子力显微镜成像的主要因素

2. 成像参数优化技巧

3. 探针选择及假象识别

4. 常见成像问题的处理方法

【主讲人简介】

孙昊，1982年出生，男，现任布鲁克中国客户服务中心及北方中国售后服务主管。2010年毕业于北京大学化学与分子工程学院，获得理学博士学位。博士期间主要从事基于原子力显微镜(AFM)的无机纳米材料的制备和表征方法研究;毕业后主要从事AFM应用及技术支持;具有长达9年的AFM使用及维修经验。