【内容简介】

原子力显微镜(AFM)被广泛用于科研和工业界各领域，涵盖了聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，细胞表面形态观察，生物大分子的结构及性质，生物传感器，分子自组装结构等领域的监测等各类科研和生产工作。 通过我们之前的讲座，大家已经对AFM的基本原理及成像模式，及其最新最先进的应用和功能，有了基本的了解。本次讲座我们将重点介绍AFM探针的基本信息以及如何合理选择AFM探针实现形貌及性质的表征。

本次讲座的内容主要包括：

1.介绍探针的基本信息，包括外观形状，弹性系数，共振频率等;

2.介绍Bruker探针的编号规则，以及按照材料和用途来划分类型。

3.讲解依据成像模式如何选择相对应的常用探针型号。

4.最后我们将介绍如何从Bruker的探针网站以及探针手册上获得详细的探针信息，以帮助广大用户快速购买和获取最合适的AFM探针。

【主讲人简介】

党文辉博士，1983年11月出生于甘肃省定西市。2002年至2006年就读于兰州大学化学化工学院。毕业后进入北京大学化学与分子工程学院攻读博士学位，并于2011年6月获得博士学位。毕业后进入神华北京低碳清洁能源研究所，在太阳能中心从事薄膜太阳能电池的开发工作。2013年4月加入Bruker纳米表面仪器部担任售后服务工程师。