【内容简介】

现代科学技术中，观察、测量、分析以及操纵纳米大小的物体是一个热门的研究领域。原子力显微镜的诞生为研究者们提供了分析和操作纳米世界的“眼”和 “手”。因此，自诞生以来AFM已经被广泛用于科研和工业界各领域，涵盖了聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，细胞表面形态观察，生物大分子的结构及性质，生物传感器，分子自组装结构等领域的监测等各类科研和生产工作。通过布鲁克2014年原子力显微镜测量技术前两讲，大家已经对AFM的基本原理;AFM技术的发展进展；及其最新应用和功能;AFM探针的基本信息以及如果合理选择AFM探针有了初步了解。

在接下来的几次报告中，我们将结合大家最感兴趣的研究领域，为各位详细的介绍AFM的测试功能和使用技巧。众所周知，研究材料纳米尺度上各类特性，需要可视化的获得样品的表面形貌或结构特征。但是，形貌表征只是利用AFM进行研究的其中一个重要部分。在AFM常规测量模式——接触模式和轻敲模式的基础上，布鲁克开发出各种各样的新型扫描模式，测量材料的电学、磁学、力学、电化学等各项性质。本报告作为2014年原子力显微镜测量技术网络系列讲座的第三讲，主要讲解AFM的基本成像模式，重点介绍最新开发的测试功能，以及获得高分辨数据的最佳测试方案;让用户更好地掌握AFM操作，不仅获得高品质的AFM图像，而且在电学、磁学、力学、电化学等各个方面获取全面精准的样品信息。

本次报告主要内容有：

1.AFM基本成像原理

2.AFM基本成像模式和最新检测技术

3.如何选择最佳成像模式和检测模块

4.高分辨扫描成像和各类材料性质检测

【主讲人简介】

李勇君，1982年出生，男，博士，布鲁克中国客户服务中心工程师。2011年毕业于中国科学院长春应用化学研究所，获得理学博士学位。博士期间主要从事基于原子力显微镜(AFM)的药物与细胞相互作用,以及细胞表面糖、蛋白质的分子识别成像研究;毕业后主要从事AFM相关的技术支持，客户咨询及AFM仪器维修;具有长达6年的AFM操作及维修经验。

教育背景

2002-2006 四川师范大学 理学学士：2006年7月

2006-2011 中国科学院长春应用化学研究所 理学博士：2011年7月

工作经历

2011.12-今 布鲁克中国客户服务中心;技术支持及维修工程师

2011.7-2011.11 中国疾控中心地方病控制中心；助理研究员