各位老师：

　　北京理化分析测试技术学会、荷兰帕纳科公司拟定于 2016 年 4月12 日（周二）在北京召开 X射线荧光光谱技术发展研讨会，邀请帕纳科荷兰专 家及国内应用专家，介绍帕纳科 X射线荧光光谱新产品、和 X射线荧光技术的最新发展，并在北京理化分析测试中心安排了现场演示。特邀请您参加。 请您于 4月8日前将参会回执返回。

　　一、 研讨会内容：

　　SumXcore 多核 X射线分析技术及核心新技术的实验与应用

　　台式能量色散 XRF 技术的进步

　　Zetium 光谱仪的核心技术应用演示（微小区域 Mapping）

　　台式 X 射线荧光光谱仪最新应用演示

　　二、 会议地点：

　　上午：北京丽亭华苑酒店鸿运 3厅

　　地址：北京市海淀区知春路 25 号（近知春路地铁站 F口）

　　下午：北京理化分析测试中心

　　地址：北京市海淀区奉贤中路 7号

　　三、 会议时间： 2016 年 4月 12 日（周二）

　　四、 日程安排：

　　4月12日 8:30-12:00 X射线荧光光谱技术发展研讨会（报告部分）；

　　12:00-13:00 午餐；

　　13:00-14:00 统一安排乘车前往北京理化分析测试中心；

　　14:00-17:00 实机演示（演示部分）；

　　17:00 统一安排乘车返回。

　　注：本次活动费由帕纳科公司承担，印会期临近，为便于会议组织。请参会代表务必于 2016年 4 月 8日前回执确认。未经确认，会议不能保证您的入场，敬请谅解！（回执表见下页）

　　会务组：北京理化分析测试技术学会

　　通讯地址：北京海淀区西三环北路27号北科大厦（100089）

　　电话：010-68722460 传真：010-68471169

　　联系人：朱凌云 13717666003 电子信箱：spnh88@126.com

　　咨询电话：桂三刚 13001226632

2016年X射线荧光光谱技术发展研讨会回执表

注：请参会人员与2016年4月8日前，将参会回执反馈到会议秘书处,本表复印有效。