【内容简介】
原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，AFM）是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。由于AFM独特的成像方式，使得它在科学研究工作中，如金属、半导体材料、微电子、物理、化学、生物、纳米材料、生命科学等众多科学领域中得到迅速的发展和应用。
本次研讨会，分析测试百科网将邀请行业专家，同大家一起探讨原子力显微镜技术，希望能对行业内工作者带来帮助和启发。
【会议时间】2020年12月8日 09:00-12:00
【日程安排】
| 时间 | 报告人 | 单位 | 报告题目 |
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09:00-09:30 |
钱建强 教授 |
北京航空航天大学物理学院 |
多模态原子力显微镜分子模拟方法 |
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09:30-10:00 | 刘志文 |
牛津仪器 | 基于AFM二维材料电学性质表征新进展 |
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10:00-10:30 | 纪鸣 |
上海纳腾仪器有限公司 | 原子力显微镜与可见-红外-拉曼-荧光联用系统 |
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10:30-11:00 |
陈强 |
岛津 |
原子力显微镜技术发展沿革与热点 |
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11:00-12:00 |
程志海 教授 |
中国人民大学物理系 | 二维材料界面应变结构与性质的原子力显微学研究 |
【赞助商】
