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2013中国国际过程分析与控制学术会议(第三轮通知)

中文

2013-08-27 至 2013-08-29

北京

张莉 何苏勤 陈达

010-82800752、010-64439597、022-27401233

zhangli@cis.org.cn

已过期

  主办单位:

  中国仪器仪表学会

  承办单位:

  天津大学

  北京化工大学

  中国仪器仪表学会科学仪器学术工作委员会

  中国仪器仪表学会近红外光谱技术分会(筹)

  协办单位:

  DECHEMA(德国生物工程与化学技术协会)

  IFPAC(国际过程分析论坛组委会)

  时间:2013年8月27-29日

  地点:

  北京中国国际展览馆

  皇家大饭店

  背景:中国国际过程分析与控制学术大会(IPAC2013)举办期间,适逢中国仪器仪表学会主办的“第24届中国国际测量控制与仪器仪表学术与展览会(MICONEX2013)”创办30周年,会议将于展览会形成呼应,举办系列活动,共同推动过程分析与控制技术的交融发展。为配合会议,MICONEX2013特设了过程分析技术示范区,展示Thermofisher、聚光、西门子等公司在行业中的应用示范技术,并进行大会优秀论文墙报交流,在示范区会议室将进行专题口头交流。

  会议主要议程:

  8月27日 近红外光谱技术在食品安全中应用研讨会

  13:00-16:30 中国国际展览馆综合服务楼201会议室

  18:00-21:00 MICONEX2013开幕晚宴及中国仪器仪表学会科学技术奖颁奖晚宴

  8月28日 中国国际过程分析与控制学术会议 主会场 大会报告

  9:00-16:40 北京皇家大饭店 一楼宴会厅

  主题报告:

  高分辨率在线核磁共振技术在过程分析中的应用

  BAM联邦材料研究与测试研究所 Dr. Michael Maiwald

  应用拉曼光谱技术进行复合材料分类

  加拿大英属哥伦比亚大学 Prof. Edward R. Grant

  过程光谱分析技术:从复杂光谱数据中获取准确定量信息

  湖南大学 陈增萍教授

  医药和精细化工产品结晶工艺的过程分析技术(PAT)和模拟、优化控制

  华南理工大学 王学重教授

  支持质量源于设计(QbD)的药物反应过程和纯化步骤的过程分析技术(PAT)

  美国默克大药厂 孙 蕾博士

  现代中药研制过程中PAT技术的应用

  天津天士力集团国际产业部 周立红经理

  17:00-21:00《过程分析技术及学科发展报告》终审会(学术委员参加)及“PAC与APC沙龙活动”

  8月29日 中国国际过程分析与控制学术会议 分会场 专题交流

  9:30-16:30 过程分析及控制新技术专题交流 中国国际展览馆1号馆二楼会议室

  9:30-16:30 过程分析应用技术专题交流 中国国际展览馆综合服务楼202会议室

  会议详细议程参见:www.miconex.com.cnIPAC2013

  会议注册:  

  会前注册 现场注册
会员 1200 RMB 1500 RMB
非会员 1800 RMB 2100 RMB

  收款单位:中国仪器仪表学会

  开户行及账号:中国工商银行北京北新桥支行 0200004309014464348

  注册方法:www.miconex.com.cn IPAC2013注册,或E-mail : ipac2013@163.com

  酒店代理:

酒店名称 地 址 价 格 距场馆  
平安京忆栈酒店 朝阳区光熙门北里34号 ¥298(含双早) 1公里  
国展宾馆 朝阳区静安西街10号 ¥350(不含早) 0.1公里  
皇家大饭店 朝阳区北三环东路甲6号 ¥700(含单早) 0公里  
注意事项: 1.客户若需安排酒店内会议室和宴会订餐,请提前与会务组联系。 2.由于各酒店房间数量有限,请您在8月10日前将订房确认书传真回我司。 3.为保证客户预订的房间,请于收到确认通知后三日内支付50%定金。 4.客户若在8月10日以后预订酒店房间,我司将不能保证使用此价格。
北京时代龙马酒店管理有限公司 地  址:北京市朝阳区西坝河南路甲1号新天第A座1103室 电  话:86-10-64462182,13810843759 传  真:86-10-64462177 email: hotel@sdlm.cn 联系人:朱娜   女士

  组委会联系方式:

  联系人:曹征 张莉 何苏勤 陈达

  E-mail:caozheng@cis.org.cn;zhangli@cis.org.cn;hesq@mai.buct.edu.cn;dachen@tju.edu.cn

  电 话:010-82800632、010-82800752

中国仪器仪表学会

2013.7