01月18日 14:00 ~ 17:00已结束

光学薄膜设计、加工与分析测量主题研讨会

随着光学技术的飞速发展,光学薄膜在诸多领域的应用越来越广泛,其性能与设计、加工及分析测量技术密切相关。为了进一步推动光学薄膜技术的发展,提升行业水平,安捷伦科技联合分析测试百科网举办本次研讨会,邀请光学薄膜产业知名企业、科研院所专家进行分享,将围绕滤光片、极端尺寸样品、高品质光学薄膜的相关研究与测试进行深入探讨。

会议日程
2024年01月18日
时间 演讲题目 主讲人 单位名称 职位
14:00-14:10 致辞欢迎 宋建华 安捷伦科技(中国)有限公司 资深应用工程师
14:10-14:50 吸收型滤光片的设计、加工及检测 宫向宇 长春博信光电子有限公司 运营经理,高级工程师
14:50-15:20 从8英寸到2mm—极端尺寸样品的自动mapping与测试 蒋龙平 安捷伦科技(中国)有限公司 资深应用工程师
15:20-16:00 磁控溅射研制高品质光学薄膜及相关测试手段简介 何文彦 中国科学院光电技术研究所 副研究员、硕士生导师
16:00-16:10 问答互动 全体成员
会议专家
联系我们

可发邮件至service@antpedia.net

合作伙伴
会议回放
推荐直播
更多>
好会推荐
更多>
会议报道
更多>