时间: 2019-12-03 - 2019-12-03 地点: 上海 TESCAN 公司一直以扫描电镜为基础平台努力扩展多种分析功能,构建 All-IN-One 综合显微分析系统。目前TESCAN已经在扫描电镜上集成拉曼光谱,可以对碳结构、官能团、同素异形、结晶度、应力等多种微观性质进行进一步的表征;而在双束平台上,TESCAN 也成功集成了 TOF-SIMS,很好的解决了包括 H、Li 在内的轻元素的高空间分辨的分析问题,另外在深度方向也有纳米级的分辨率,也很好的解决了纳米膜层的分析。 &nbs