扫描电镜测

邀请函 | TESCAN与上交大分测中心联合举办“扫描电镜-原子力联用技术(CPEM)交流会”

时间: 2019-12-03 - 2019-12-03
地点: 上海

TESCAN 公司一直以扫描电镜为基础平台努力扩展多种分析功能,构建 All-IN-One 综合显微分析系统。目前TESCAN已经在扫描电镜上集成拉曼光谱,可以对碳结构、官能团、同素异形、结晶度、应力等多种微观性质进行进一步的表征;而在双束平台上,TESCAN 也成功集成了 TOF-SIMS,很好的解决了包括 H、Li 在内的轻元素的高空间分辨的分析问题,另外在深度方向也有纳米级的分辨率,也很好的解决了纳米膜层的分析。    &nbs

2015年度北京市电子显微学研讨会暨第十届全国实验室科学管理交流会

时间: 2015-07-17 - 2015-07-22
地点: 牡丹江市

为推动电子显微技术的进步和发展,提高广大电子显微技术工作者的学术及技术水平,促进电镜分析技术在国内生命科学、材料科学、地学等领域中的应用和发展,北京理化分析测试技术学会、北京市电镜学会计划于2015年7月17日—22日(星期五至星期三)在黑龙江省牡丹江市举办“2015年度北京市电子显微学研讨会暨第十届全国实验室科学管理交流会”,会期6天。届时将邀请国内著名专家学者和青年科技工作者做先进的透射电镜、扫描电镜、X射线能谱分析和电子探针仪器测试