时间: 2016-04-12 - 2016-04-12 地点: 北京 各位老师: 北京理化分析测试技术学会、荷兰帕纳科公司拟定于 2016 年 4月12 日(周二)在北京召开 X射线荧光光谱技术发展研讨会,邀请帕纳科荷兰专 家及国内应用专家,介绍帕纳科 X射线荧光光谱新产品、和 X射线荧光技术的最新发展,并在北京理化分析测试中心安排了现场演示。特邀请您参加。 请您于 4月8日前将参会回执返回。 一、 研讨会内容: SumXcore 多核 X射线分析技术及核心新技术的实验与应用 台式能量色散 XRF 技术的进步 Zetium 光谱仪的核心技术应